TranSpec MircoTranSpec Mirco 白光干涉膜厚仪
德国应用光谱 TranSpec Mirco 白光干涉膜厚仪可用于主要的汽车灯以及CD生产商进行有机膜厚测试。 参考价面议TranSpec LiteTranSpec Lite 白光干涉膜厚仪
德国应用光谱 TranSpec Lite 白光干涉膜厚仪用于主要的汽车灯以及CD生产商等行业进行有机膜厚测试。 参考价面议AT-30Applytest AT-30 便携式涂层测厚仪
Applytest AT-30 便携式智能型数字涂镀层测厚仪,它能快速、无损伤、精密地进行涂层、镀层厚度的测量。 参考价面议X-Strata980牛津仪器X-Strata980XRF镀层测厚及痕量元素分析
X-Strata980 配备了超大功率X射线管和高灵敏度探测器,能够满足复杂样品和微小测试面积的检测需求。CMI760牛津仪器CMI760桌上型铜厚测量仪
CMI760(PCB铜厚测试仪)BA-100美国博曼(Bowman)BA-100 台式X射线荧光(XRF)镀层测厚仪
美国博曼(Bowman)BA-100 台式X射线荧光(XRF)镀层测厚仪——为您提供高精度、快速简便的镀层厚度测量、元素分析,以及电镀液分析。智能的紧凑式设计使得分析各种各样的应用变得更方便,在合理的价格范围内显著提升您的镀层产品质量控制。 参考价面议BA-100 Optics美国博曼(Bowman)BA-100 Optics 台式X射线荧光(XRF)镀层测厚仪
美国博曼(Bowman)BA-100 台式X射线荧光(XRF)镀层测厚仪——为您提供高精度、快速简便的镀层厚度测量、元素分析,以及电镀液分析。智能的紧凑式设计使得分析各种各样的应用变得更方便,在合理的价格范围内显著提升您的镀层产品质量控制。 参考价面议CMI563牛津仪器CMI563手持式型孔表面铜测厚仪
牛津仪器CMI563表面铜厚测量仪专为测量刚性及柔性、单层、双层或多层印刷电路板上的表面铜箔厚度设计。 参考价面议CMI730牛津仪器CMI730桌上型涂镀层测厚仪
CMI730能同时为磁性基材上的非磁性涂/镀层、导性基材上的非导性涂/镀层以及磁性基材上的电镀镍层提牛津仪器X-Strata920XRF镀层测厚仪
X-Strata920 是一款结构紧凑、坚固耐用、质量控制可靠的台式X射线荧光光谱仪,可以进行简单快速的镀层厚度测量和材料分析。