半导体器件I-V测试系统

半导体器件I-V测试系统

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具体成交价以合同协议为准
2024-09-04 08:16:07
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济南创谱仪器有限公司

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产品简介

产品简介 : 1.标准探针台 2.光学隔振平台CPPT-A66,台面600*600mm含支架 3.笔记本电脑/台式电脑(标准的VGA接口和USB接口) 4.美国吉时利2400数字源表含软件

详细介绍

产品信息:

 直流I-V测试是表征微电子器件、工艺以及材料特性的基石。通常使用I-V特性分析,或者I-V曲线来决定器件的基本参数。 
 创谱仪器CPIV-SD半导体器件IV特性测试系统采用高精度,高漏电精度探针台、数字源表以及上位机软件组成;

产品特点:
◆CPZH系列探针台:4寸/6寸样品盘,漏电精度100fA,真空吸附,3微米探针移动精度,10微米针尖,2000万CCD成像,12寸显示器

◆吉士利数字源表:

                (双电极)单通道选用2450,电压量程:20mV-200V;电流量程:10nA-1A

                (三端器件等)双通道选用2602B,电压量程:100nV-40V;电流量程:0.1fA-10A

◆IV测试软件:

 可以实现:单阶恒流输出、单阶恒压输出、电阻测量、多阶恒流输出、多阶恒压输出、电流扫描、电压扫描、电流电压波形输出、温度测量-PT100铂电阻

 在测试的过程中,测量数据以图形和表格的方式实时显示,在切换到下一步骤后,显示数据界面重新进行初始化,同时系统信息窗口提示当前正在执行的步骤。

产品应用:
二极管特性的测量与分析
双极型晶体管BJT特性的测量与分析 
MOSFET场效应晶体管特性的测量与分析
MOS 器件的参数提取

实测曲线:
                    实测双端器件IV测试曲线

实测双端器件IV测试曲线
                                           实测三端器件IV测试曲线

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