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FPEH0-MX30 单点硅片测厚仪
- 型号
- FPEH0-MX30
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孚光精仪公司品牌源于早期的东欧地区和德国进口光学材料和仪器的进口服务。公司创始股东们足迹遍布捷克，爱沙尼亚，罗马尼亚，白俄罗斯，立陶宛,法国，英国，意大利，奥地利，丹麦，比利时，以及德国 汉堡，法兰克福，柏林，慕尼黑，纽伦堡，德累斯顿等科技强国和强市，对整个欧洲特别是东欧和德国的技术产品和精密仪器的质量有可靠的把握。长期以来，德国在科学研究、技术创新和仪器研发领域具有的优势。德国的科学仪器以技术*，质量可靠而著称。孚光精仪早期专注于选择德国和东欧国家可靠的供应商，为用户提供了道质量保障。公司派送员工前往原厂进行技术培训，从而具备为远东地区用户提供快速高效的技术服务能力，这一举措深得用户和制造商的高度赞誉。因此，孚光精仪的事业在服务客户的同时获得超常发展,快速成长为*仪器的规模型供应商和技术服务商。目前，孚光精仪已经把产品原产地扩展到整个欧洲和美国，形成了以欧洲和美国为供货来源地的良好局面。
详细信息
单点硅片测厚仪是采用单点测厚技术为硅晶圆厚度测量设计的硅晶圆测厚仪器。适合手动测量单点的晶圆厚度。
单点硅片测厚仪应用
晶圆来料检测
晶圆研发和质量控制
单点硅片测厚仪规格参数
无框晶圆
| Gauge Types | Wafer Diameter | Thickness Range | 精度 | 分辨率 | 功能 |
| MX 301-8 | 20 - 200mm | 200 - 1000µm | ±0.5µm | 0.1µm | 厚度测量 |
| MX 301-8-S | 75 - 200mm | 300 - 1800µm | ±0.8µm | 0.1µm | 厚度测量 |
| MX 3012 | 75 - 300mm | 200 - 1000µm | ±0.5µm | 0.1µm | 厚度测量 |
| Gauge Types | Wafer Diameter | Thickness Range | 精度 | 分辨率 | 功能 |
| MX 3014 | 200 , 300mm | 0 - 1100µm | ±0.5µm | 0.1µm | 厚度测量 |
