高性能X射线荧光分析仪

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101-G,100-B,100-P,100-O 高性能X射线荧光分析仪

型号
101-G,100-B,100-P,100-O

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成立于2012年,在香港、上海、东莞、天津、西安和苏州设有分支机构或办公室。从成立伊始就一直专注于薄膜厚度与表面轮廓测量领域,为半导体、面板等高科技企业和高校及研发中心提供精密测量设备与解决方案。提供全面的一对一销售服务,技术支持,备件管理和咨询服务。不同于大多数的设备销售公司,我们具备技术与丰富的行业经验,不光为用户提供设备,也提供设备具体应用及工艺方面的支持服务,同时我们具备核心研发能力,在设备设计和集成上可以帮助客户解决特殊应用问题。 公司核心人员在薄膜测量领域耕耘超过10年,拥有非常丰富的行业经验,为客户提供的解决方案。 优尼康科技有限公司成立于2014年,作为翌颖科技的附属公司拓展业务领域。 我们秉承“真诚,专注,信赖”的理念,用我们真诚的态度与行动服务客户,专注于为客户提供高品质、适合用户需求的产品,与每一位客户建立互相信赖的合作伙伴关系。我们真诚希望与大家共同成长,共同发展,一起创造美好的明天。

详细信息

 


高性能X射线荧光分析仪




产品描述:


美国博曼(Bowman)Bowman BA-100 Optics 台式X射线荧光(XRF)镀层测厚仪——为您提供高精度、快速简便的镀层厚度测量、元素分析,以及电镀液分析。

Bowman BA-100 Optics 机型采用业界的多孔毛细管光学聚焦装置,有效缩小测量点斑点的同时,可数倍乃至数十倍提高X射线激发强度。

Bowman BA-100 Optics 机型配备大面积的SDD(硅漂移探测器),有效拓展元素分析范围,适应的微区、超薄镀层,以及痕量元素分析需求。

优秀的测试性能、突出的微区测量能力,Bowman BA-100 Optics机型是研究开发、质量管控的XRF镀层厚度及元素成分分析仪器。


稳定的X射线管

  •      微聚焦50瓦Mo靶射线管(其它靶材可选); 小于100um的测量斑点

  •       射线出射点预置于射线管Be窗正

  •       长寿命的射线管灯丝

  •       的预热和ISO温度适应程序


多毛细管聚焦光学结构

  •     显著提高X射线信号强度

  •       获得较准直器机型数倍乃至数十倍的信号强度

  •       小于100um直径的测量斑点

  •       经过验证,接近的测量精度



应用领域:

  • 常见的镀层应用

        PCB行业

        Au/Pd/Ni/Cu/PCB

  • 引线框架

        Ag/Cu

        Au/Pd/Ni/CuFe

  • 半导体行业

        Pd/Ni/Cu/Ti/Si-晶元基材

        Au/Pd/Ni/Cu/Si晶元基材

  • 线材

        Sn/Cu

  • 珠宝、贵金属

        10,14,18Kt

  • 元素分析、合金分类、杂质分析、溶液分析、电镀液分析等








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