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AT-30 Applytest AT-30 便携式涂层测厚仪
- 型号
- AT-30
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非接触式3D轮廓仪，白光干涉膜厚仪，XRF镀层测厚仪，表面铜厚和孔内铜厚测量仪，手持式XRF光谱仪
安柏来科学仪器（上海）有限公司 成立于上海，在苏州、深圳、成都设有销售及服务点。
业务涉及
仪器设备事业：科学仪器、检测工具、实验室设备、工业自动化；
材料事业：工业材料、实验室耗材
实验室及生产线集成事业：QA/QC实验室整体方案、电镀代加工、电镀废水中贵金属回收再利用。
有能力为客户提供：售前应用评估及测试、售后技术支持、设备维护保养及校验、标准样品及零部件供应、标准样品再认证（ISO17025）、备用设备租赁。
产品包括但不局限于：X射线荧光（XRF）、电子显微镜、能谱仪、白光干涉膜厚测量、磁感应及涡流、超声、原子吸收（AAS）、原子力显微镜（AFM）、实验室模拟系统、三座标、二次元、自动色差测量平台……满足客户的QA/QC及R&D测试需求。
代理的品牌来自德国、英国、美国、日本，包括：Applied Spectroscopy、Amtec、Bruker、ColorPartner、Hydac、Oxford、K Alpha、SII 等……
不断完善的产品解决方案、专业的技术眼光、高效率的运营、客户为先的理念，我们追求与客户*稳定的配合、致力于成为客户的技术采购合作伙伴。
详细信息
产品描述：
- 具有两种传感器可选择：磁性传感器和涡流传感器。
- 具有两种测量模式：高精度单次测量模式（Precision）和扫描模式（Scan）。
- 具有温度补偿功能：*的实时温度补偿技术可自动对环境温度及测头温度改变引起的测量误差进行补偿，使测量更正确。
- F型磁性传感器磨损后可与仪器主机重新进行自动匹配，匹配成功并进行基本校准后仍可继续使用，从而延长传感器的使用寿命。
- 设有五个统计量：平均值（MEAN）、zui大值（MAX）、zui小值（MIN）、测试次数（NO.）、标准偏差（S.DEV）。
- 可采用零点校准、一点校准或二点校准法对仪器进行校准，并可用基本校准法和温度系数校准法对传感器的系统误差进行修正。
- 具有存贮功能：zui多可存贮500个测量值。
- 具有删除功能：对测量中出现的单个可疑数据进行删除，也可删除存贮区内的所有数据，以便进行新的测量。
- 可设置限界：对限界外的测量值自动报警。
- 具有电源电量显示功能。
- 操作过程有蜂鸣声提示，并可选择关闭蜂鸣器。
- 设有三种关机方式：手动关机方式、超时自动关机方式以及低电量自动关机方式，并可设置超时自动关机等待时间，自动关机时伴有背光闪烁及蜂鸣声提示。
- 具有实时数据通讯功能：可将每次测量结果实时发送到PC机上进行编辑或打印。
应用领域：
选用磁性传感器，可测量磁性金属基体上非磁性覆盖层的厚度。
选用涡流传感器，可测量非磁性金属基体上非导电覆盖层的厚度。
典型应用:铁上镀锌，铁、不锈钢、铝合金等材料表面的涂镀层，线路板表面阻焊层（绿油）。
