BDR-003A（半导体）材料热导率系数测试仪

BDR-003A（半导体）材料热导率系数测试仪主要用于测试薄的热导体、固体电绝缘材料、导热硅脂、陶瓷基片、铝基片、树脂、橡胶、氧化铍瓷、氧化铝瓷等材料的热阻以及固体界面处的接触热阻和材料的热导率系数。 参考价面议

JKZC-MECT2材料电磁特性（效应）综合测试系统

JKZC-MECT2材料电磁特性（效应）综合测试系统是广泛应用材料电磁特性测试，能够测试块状材料及薄膜材料的多种特性，电阻-磁场关系（磁电阻）；电压-电流关系（伏安特性）；电压-磁场关系（霍尔效应）；电阻-温度关系（热敏电阻）；电压-温度-磁场关系（变温霍尔效应）等，目前在是高等院校材料研究和教学中广泛使用。 参考价面议

BKTEM-Dx热电性能分析系统

对于热电材料的研究，热电性能测试是*的试验数据。BKTEM-Dx（x=1,2,3）系列可以精确地测定半导体材料、金属材料及其他热电材料（Bi2Te3, PbTe, Skutterudites等）及薄膜材料的Seebeck系数及电导率。 参考价面议

ZEM-5热电性能分析系统

适用于研究开发各种热电材料和薄膜材料，提高测量精度
温度检测采用C型热电偶，Z适合测量Si系列热电材料（SiGe, MgSi等） *HT型
真正可测基板上的纳米级薄膜（TF型）
Z大可测10MΩ高电阻材料
标准搭载欧姆接触自我诊断程序并输出V/I图表
基于日本工业标准JIS （热电能JIS 电阻率JIS R 1650-2） 参考价面议

ZEM-3热电性能分析系统

温度检测采用R型热电偶
标准搭载欧姆接触自我诊断程序并输出V/I图表
基于日本工业标准JIS （热电能JIS 电阻率JIS R 1650-2）
试样支架采用*的接触式平衡机构，保证测量的高重现性
采用高级数据采集技术，避免电路板数据采集技术带来的干扰误差 参考价面议

ZT-4C铁电性能综合测试系统

铁电材料具有良好的铁电性、压电性、热释电性以及非线性光学等特性, 是当前*材料中非常活跃的研究领域之一，其研究热点正向实用化发展。 参考价面议

2017全国高校岩土工程实验室仪器采购清单及技术参数表

2017全国高校岩土工程实验室仪器采购清单及技术参数 参考价面议

中科院zui强UDM-1000超声波成孔质量检测仪

实践中，将超声波传感器沿充满泥浆的钻孔中心以一定速率下放，在探头下放过程中，接收并记录四个方向（或两个方向）的垂直孔壁的超声波脉冲反射信号，可以很方便地对钻孔四个方向同时进行孔壁状态监测，可以直观的观测连续墙槽宽、钻孔直径、垂直度、孔壁状况等参数。 参考价面议

铁科院CPMS-05路基连续压实监测仪,路基压实仪

通过在一定吨位的振动压路机上装载本监控设备，可以对碾压过程进行实时的连续动态监控，便于及时采取相应的工程措施。 参考价面议

JKGT-G300高温铁电材料测量系统

该系统不仅仅在温度上将实现了高温测试，而且在电压和频率上进行了提高，对我们的铁电材料研究和测试带来更加重要的帮助，该系统可以测量铁电材料的电滞回线，饱和极化Ps、剩余极化Pr、矫顽场Ec、漏电流、疲劳、保持、I-V和开关特性等性能的测试，是科研机构和高等院校进行研究的重要辅助工具。 参考价面议

GWJD-1000型高温介电性能测量系统（四通道测试，同时测试4个样品）

GWJD-1000型高温介电性能测量系统主要应用于高温下材料的介电性能测试与分析，包括介电常数、介电损耗、电容等参数，同时测试出测试材料的其他阻抗参数，广泛应用于陶瓷材料、半导体器件及功能薄膜材料等研究 。 参考价面议

GDJD-600型高低温介电性能测量系统（四通道测试，同时测试4个样品）

GDJD-600型高温介电性能测量系统主要应用于高低温下材料的介电性能测试与分析，包括介电常数、介电损耗、电容等参数，同时测试出测试材料的其他阻抗参数，广泛应用于陶瓷材料、半导体器件及功能薄膜材料等研究 。 参考价面议