太阳能硅片厚度仪是制备太阳能硅片过程中*的检测设备，硅片厚度有一定的偏差范围，对于180μm厚度的硅片，其偏差范围为±20μm，超过此范围则成为不良品--薄厚片。薄厚片是衡量硅片品质的一个很重要的指标。薄厚片的存在会影响硅片合格率及电池片的生产工艺，因此硅片厚度成为一项重要检测指标。

太阳能硅片厚度仪

   太阳能硅片厚度仪的技术参数：

   测量范围           0-2mm （其他量程可定制

   分辨率             0.1um

   测量速度           10次/min（可调）

   测量压力           17.5±1kPa（薄膜）；100±1kPa（纸张）

   接触面积           50mm²（薄膜），200mm²（纸张） 注：薄膜、纸张任选一种

   进样步矩           0 ～ 1300 mm(可调)

   进样速度           0 ～ 120 mm/s(可调)

   机器尺寸           450mm×340mm×390mm (长宽高)

   重    量             23Kg

   工作温度             15℃-50℃

   相对湿度             zui高80%,无凝露

   试验环境             无震动，无电磁干扰

   工作电源             220V 50Hz

   标准 GB/T 6618-2009《硅片厚度和总厚度变化测试方法》中给出了硅片厚度的测量方法，并对检测仪器的相关参数做出了规定：

   1.测厚仪由带指示仪表的探头及支持硅片的夹具或平台组成。

   2.测厚仪应能使硅片绕平台中心旋转，并使每次测量定位在规定位置的2mm范围内。

   3.仪表zui小指示量值不大于1μm。

   4.测量时探头与硅片接触面积不应超过2mm²。

   CHY-U型太阳能硅片厚度仪*上述要求，还配有自动进样器，可完成2mm范围内各种薄膜、复合膜、纸张、金属箔片等硬质和软质材料厚度精确测量。在太阳能硅片的生产过程中能够起到重要作用。

   济南三泉中石实验仪器有限公司是太阳能硅片厚度仪研发与生产的高科技企业，拥有比较全面的复合膜测厚仪、金属镀层测厚仪、纸张测厚仪等测试体系，咨询。