天光测控IGBT开关特性测试仪

                                   ST-DP_X（1200V200A）

产品简介

*品牌： 天光测控

*型号： ST-DP_X（1200V200A）

*用途： 用于 Si/SiC/GaN 材料的 MOSFET&IGBT开关时间参数测试，

            1200V/200A的输出能力，覆盖几乎所有的半导体分立式单管器件

*029*8730*9001/80*9264*3147，欢迎垂询

*参数指标：

开通延迟 td(on) 0.1ns~10us        关断延迟 td(off) 0.1ns~10us

上升时间 tr 0.1ns~10us               下降时间 tf 0.1ns~10us

开通时间 ton 0.1ns~10us            关断时间 toff 0.1ns~10us

开通损耗 Eon 1uJ~1000mJ         关断损耗 Eoff 1uJ~1000mJ

拖尾电流 0.1A~30A

*关于售后：质保一年，提供免费上门巡检服务；客服7*24小时开通/电脑远程服务。

产品简述

天光测控IGBT开关特性测试仪是主要针对 半导体功率器件的动态参数测试 而开发设计。通过DUT适配器的转换，可测试各类封装外观的 IGBTs，MOSFETs，DIODEs等功率器件，包括器件、模块、DBC衬板以及晶圆。产品功能模块化设计，根据用户需求匹配功能单元。测试功能单元有DPT（双脉冲测试 Double Pulse Testing，以下简称DPT。包含开通特性、关断特性、反向恢复特性）栅电荷、短路、雪崩、结电容、栅电阻、反偏安全工作区等。测试方案*符合IEC60747-9标准。
     产品功能及输出功率进行了模块化设计，满足用户潜在的后期需求，*高测试电压电流可扩展至10KV/10KA，变温测试支持常温到200℃，支持生产线批量化全自动测试。

产品特点

Ø *测试系统电压以1500V为一个模块，电流以2000A为一个模块，可扩展至10KA/10KV
Ø *内置7颗标准电感负载可选用, 另有外接负载接口,可实现不同电感和电阻负载测试需要(20/50/100/200/500/1000/2000uH)
Ø *另有程控式电感箱可供选择
Ø* 针对不同结构的封装外观，通过更换 DUT适配器即可
Ø *可进行室温到200℃的变温测试,也可实现子单元测试功能
Ø *测试软件具有实验模式和生产模式，测试数据可存储为Excel文件
Ø *门极电阻可任意调整, 系统内部寄生电感为*小至50nH
Ø *系统测试性能稳定,适合大规模生产测试应用（24hr 工作）
Ø *安全稳定（PLC 对设备的工作状态进行全程实时监控并与硬件进行互锁）
Ø *系统具有安全工作保护功能，以防止模块高压大电流损坏时对使用者造成伤害，设计符合CE认证
Ø *支持半自动和全自动测试
Ø *采用品牌工控机，具有抗电磁*力强，排风量大等特点
Ø* 自动化：单机测试时只需手动放置DUT，也可连接机械选件实现自动化测试线
Ø *智能化，通过主控计算机进行操控及数据编辑，测试结果自动保存及上传局域网
Ø *安全性，防爆，防触电，防烫伤，短路保护等多重保护措施，确保操作人员、设备、数据及样品安全。

售后服务

• 供货期：一个月。

• 保修期：保修一年，终身维护。

• 供方收到用户维修请求后在12小时内给予回复，需要到现场排除故障时二个工作日内派技术人员赶到用户现场进行维修。

• 设备交付后免费培训相关人员直至使用熟练为止。

• 系统操作界面采用中文或以用户要求为准。

• 软件*升级，对需方器件测试程序提供*支持 。

*欢迎垂询，155*9666*8116                              天光测控2020.05.27/叶