FBSOA1000晶体管正向偏置安全工作区测试系统
用于 Si , SiC , GaN , 材料的器件级和模块级元器件直流参数测试系统
能测 36类“半导体分立器件”“电子元件”诸如 Diode、BJT、MOSFET、IGBT、SCR、光耦、继电器、IC、电流传感器、保护器等;※ 测试项目包括击穿、漏电、增益、导通、关断、触发、保持还可测试结电容,如Cka,Ciss,Crss,Coss; 参考价¥10000OCT 1400 光耦参数测试仪
各类三极管型的光电耦合器 单机测试仪,源自飞思卡尔 16 位单片机编程; 支持1通道,多通道提供适配器支持; 10 档位分档设计; 可编程的 DUT 恒流源和电压源.内置继电器矩阵自动连接所需测试电路 高压测试电流分辨率 1uA,测试电压可达 1400V. 参考价¥99990PN结电容测试仪 电子行业专用仪器
天光测控PN结电容测试仪ST-DP_XIGBT开关特性测试仪 电子行业专用仪器
天光测控IGBT开关特性测试仪——型号:供应厂家:天光测控;型号:ST-DP_X(1200V200A);ST-PC_X半导体器件老化测试筛选系统 电子行业专用仪器
*品 牌: 天光测控半导体器件老化测试筛选系统ST-DC2000_X半导体管特性图示仪 电子行业专用仪器
天光测控ST-DC2000_X半导体管特性图示仪,显示半导体器件的各种特性曲线;测量半导体器件的静态参数;能在不损坏器件的情况下,测量半导体器件的极限参数;晶体管双簇显示029/8730/9001垂询 参考价¥248000ST-DC2000_X半导体特性测试仪 电子行业专用仪器
ST-DC2000_X 系列·半导体特性测试仪,可测试 19大类27分类 的大中小功率的半导体分立器件及模块的静态直流参数,高压源2000V ,大电流源 50~1250A,分辨率高至1mV / 10pA支持曲线扫描图示功能,029-8730(9001) 参考价¥204000TRd 2015IGBT动态参数开关短路反向恢复测试 电子行业专用仪器
IGBT动态参数开关短路反向恢复测试ST-Thermal_KcurveK曲线测试仪
K曲线测试仪T3Ster 热阻测试仪 电子行业专用仪器
T3Ster热阻测试仪 是Mentor Graphics公司研发制造的*的热瞬态测试仪,用于测试IC、LED、散热器、热管等电子器件的热特性。T3Ster基于JEDEC JESD51-1标准*的静态测试方法,通过改变电子器件的输入功率,使得器件产生温度变化,在变化过程中,T3Ster测试出芯片的瞬态温度响应曲线,仅在几分钟之内即可分析得到关于该电子器件的全面的热特性。 参考价¥299ST-SP 2001测试范围广 19大类,27分类 功率器件测试仪 电子行业专用仪器
测试范围广 19大类,27分类 功率器件测试仪