IGBT击穿电压测试源测单元
IGBT击穿电压测试源测单元
IGBT击穿电压测试源测单元
IGBT击穿电压测试源测单元
IGBT击穿电压测试源测单元

E系列IGBT击穿电压测试源测单元

参考价: 订货量:
78888 1

具体成交价以合同协议为准
2021-10-22 10:15:09
251
属性:
测量范围:300mV-300V/100nA-1A;测量精度:0.01;外形尺寸:425*255*106mm;用途:分立半导体器件,传感器,太阳能电池,纳米材料,有机材料;重量:5kg;测试范围:0~3000V,0~100mA;测试精度:0.1%;Z大输出功率:300W;
>
产品属性
测量范围
300mV-300V/100nA-1A
测量精度
0.01
外形尺寸
425*255*106mm
用途
分立半导体器件,传感器,太阳能电池,纳米材料,有机材料
重量
5kg
测试范围
0~3000V,0~100mA
测试精度
0.1%
Z大输出功率
300W
关闭
武汉普赛斯仪表有限公司

武汉普赛斯仪表有限公司

免费会员
收藏

组合推荐相似产品

产品简介

IGBT击穿电压测试源测单元具有输出及测量电压高(3000V)、能输出及测量微弱电流信号(1nA)的特点。设备工作在D一象限,输出及测量电压0~3000V,输出及测量电流0~100mA

详细介绍

背景图.jpg


IGBT击穿电压测试源测单元简介

电压源测单元具有输出及测量电压高3000V、能输出及测量微弱电流信号(1nA)的特点。设备工作在D一象限,输出及测量电压0~3000V输出及测量电流0~100mA支持恒压恒流工作模式,同时支持丰富的I-V扫描模式

设备可应用于IGBT击穿电压测试、IGBT动态测试母线电容充电电源、IGBT老化电源、防雷二极管耐压测试、压敏电阻耐压测试等场合。其恒流模式对于快速测量击穿点具有重大意义。

 

技术指标

电压性能参数

电压

测量

量程

分辨率

准确度±(% rdg.+volts)

分辨率

准确度±(% rdg.+volts)

100V

10mV

0.1%±40mV

10mV

0.1%±40mV

600V

60mV

0.1%±100mV

60mV

0.1%±100mV

1000V

100mV

0.1%±300mV

100mV

0.1%±300mV

1500V

150mV

0.1%±400mV

150mV

0.1%±400mV

2200V

220mV

0.1%±700mV

200mV

0.1%±700mV

3000V

300mV

0.1%±900mV

300mV

0.1%±900mV

 

电流性能参数

电流

测量

量程

分辨率

准确度±(% rdg.+volts)

分辨率

准确度±(% rdg.+volts)

1uA

100pA

0.1%±1nA

100pA

0.1%±1nA

10uA

1nA

0.1%±5nA

1nA

0.1%±5nA

100uA

10nA

0.1%±50nA

10nA

0.1%±50nA

1mA

100nA

0.1%±300nA

100nA

0.1%±300nA

10mA

1uA

0.1%±5uA

1uA

0.1%±5uA

100mA

10uA

0.1%±10uA

10uA

0.1%±10uA

 

Z大输出功率300W3000V/100mA不同型号有差异

输出电压建立时间< 5ms

输出接口KHV(三同轴),支持四线测量

扫描支持线性对数及用户自定义扫描

通信接口RS232以太网

保护支持急停

触发支持trig INtrig out

尺寸19英寸1U机箱

 

IGBT击穿电压测试源测单元订货信息

型号

E100

E200

E300

源精度

0.1%

0.1%

0.1%

测量精度

0.1%

0.1%

0.1%

Z大功率

100W

220W

300W

Z小电压量程

100V

100V

100V

Z大电压量程

1000V

2200V

3000V

Z小电流量程

1uA

1uA

1uA

Z大电流量程

100mA

100mA

100mA

 

更多有关IGBT击穿电压测试源测单元的信息找武汉生产厂家普赛斯仪表为您解答


上一篇:太阳光谱反射率仪的特点和应用 下一篇:砂尘环境中的防尘试验机HE-SC-1000
热线电话 在线询价
提示

请选择您要拨打的电话:

温馨提示

该企业已关闭在线交流功能