设备简介：

NETZSCH LFA 457 MicroFlash® 代表了当代激光闪射测量技术的进展。仪器为桌上型，温度范围 -125 ... 1100°C。为了覆盖这一温度范围，提供了两种可自由切换的炉体。
系统所使用的全新的红外传感器技术使得用户甚至可以在 -125°C 的低温下测量样品背部的温升曲线。
仪器既可使用内置的自动样品切换器在一次升温中对多个较小的样品进行测量，也可单独测量较大的样品（直径 25.4mm）。
真空密闭系统使得仪器可以在多种用户可选的气氛中进行测量。
样品支架、炉体与检测器的垂直式排布方便了样品的放置与更换，同时使得检测信号拥有的信噪比。
LFA 457 是大与灵活的 LFA 系统，适用于包括汽车制造、航空航天与能源技术在内的各种领域的常规材料与新型高性能材料的表征。
 

技术指标：

温度范围：-125 ... 500°C，RT ... 1100°C（使用两种可自由更换的炉体）
升降温速率：0.01 ... 50 K/min
激光能量：18.5 J/pulse（功率可调）
使用红外检测器，进行非接触式的样品表面温升信号测试
热扩散系数范围：0.01 ... 1000 mm2/s
导热系数范围：0.1 ... 2000 W/m*K
样品直径：10 ... 25.4 mm 圆，或 8×8 与 10×10mm 方。
样品厚度：0.1 ... 6 mm
样品支架：碳化硅，石墨
熔融金属容器：蓝宝石
液体样品容器：铂金
气氛：惰性，氧化，还原，静态，动态
真空密闭系统：真空度 10-2 mbar（1 Pa）