具备高速扫描3D重建功能的ZeeCam系列3D数字显微镜相机

ZeeCam系列3D数字显微镜相机可与立式或倒置材料显微镜兼容。无需显微镜修改或其他附件，可以使用所有类型的物镜放大倍率和数值孔径。

ZeeCam随附GetPhase软件，其中包括用于Z深度测量，3D表面形貌，粗糙度和台阶高度测量的综合工具，并成功用于以下应用领域：金属涂料、电子涂料、陶瓷聚合物、半导体材料、宝石学、博物馆、法医。

ZeeCam系列3D数字显微镜相机可进行快速精确的z向扫描，该3D显微镜相机使用专用的光学组件进行3D扫描，集成了新型数字透镜技术，从而取代了传统的电动手段，例如步进电机或压电设备等，从而实现了Z轴方向上精确且高度可重复的3D采集和分析。

快速准确的3D表面计量：

ZeeScan和Getphase以一种快速和简单的方式进行三维采集和分析。非接触光学表面轮廓具备很高的可重复性。

-纳米和微米范围内的范围表面分析

-从光滑到粗糙的表面检测能力

-ISO粗糙度和台阶高度测量

-快速采集和处理时间的高通量

强大的成像功能：

可以自动实现高分辨率图像的Z向叠加，提供图像融合图像（扩展景深图像、Z深度测量或三维重建）。此外，GetPhase还提供了二维测量和图像文档工具。

-无需专门的光学器件即可显示出细的结构细节

-单击具有多个视图的图像文档

-自动图像融合（扩展景深）

-2D测量和报告

ZeeCam系列3D数字显微镜产品规格：

3D测量性能：

c-mount耦合器的放大倍数是取决于Z范围和分辨率的客观因素。下表给出了使用1X耦合器进行标准物镜放大的典型性能。 对于任何其他放大倍率和/或c-mount耦合器配置，可以采用以下公式：Z Range = 16mm / (G_Obj * G_adapt)² Z Resolution = Objective Depth Of Field /4

G_Obg = Objective magnification    G_adapt = c‐mount coupler magnification

-Z轴精度：1 %

-Z轴可重复性：0.35 %

-坡度：90°

-由相机分辨率和物镜放大率确定XY空间分辨率

粗糙度测量：

共提供了12个分析参数，包括常用的Ra（Sa)，Rq（Sq)，Rz（Sz)等参数。且参数符合ISO 4287, 25178 DIN 4768标准。

-测量范围：Ra，Rq：0.01-500 µm

-测量准确度: ≤±10%

-测量重复性：≤6%

软件：

GetPhase®GUI软件（随附）与Windows 8、7，XP和Vista兼容。 GetPhase®提供

从自动采集到2D / 3D图像分析，以及文档和报告生成的全面工具。可选的API / SDK包括ZeeScan采集控件，Z-stack例程，3D重建，EDF，DIC，相位和3D表面分析。