NanoFlip纳米压痕仪 提供高精度XYZ位移,可定位样品进行测试
NanoFlip纳米压痕仪 提供高精度XYZ位移,可定位样品进行测试

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具体成交价以合同协议为准
2023-07-06 15:17:01
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上海纳嘉仪器有限公司

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产品简介

NanoFlip纳米压痕仪可在真空和常压条件下对硬度、模量、屈服强度、刚度和其他纳米力学测试进行高精确度的测量

详细介绍

NanoFlip纳米压痕仪可在真空和常压条件下对硬度、模量、屈服强度、刚度和其他纳米力学测试进行高精确度的测量。在扫描电子显微镜(SEM)和聚焦离子束(FIB)系统中,NanoFlip在测试(例如柱压缩)方面表现优异,可以将SEM图像与机械测试数据同步。NanoFlip测量迅速,这对于惰性环境(例如手套箱)中测试异质材料很关键。系统所配置的可选套件,例如InForce50电磁驱动器,可以提供定量结果,从而为材料研究提供有价值的解决方案。



产品描述
NanoFlip提供高精度XYZ位移,可定位样品进行测试,还提供翻转机制,可定位样品进行成像。InView软件附带一套测试方法,涵盖一系列测试协议,并允许用户创建自己的新颖测试方法。InForce50驱动器在真空和常压条件下表现同样出色。InView软件可以记录SEM或其他显微镜图像,并与机械测试数据进行同步。创新的FIB-to-Test技术允许样品倾斜90°,无需移除样品即可实现从FIB到压痕测试的无缝过渡。



主要功能
InForce 50驱动器,用于电容位移测量,并配有电磁启动的可互换探头

InQuest高速控制器电子设备,具有100kHz数据采集速率和20μs时间常数

用于样本定位的XYZ移动系统

SEM视频捕获,可以将SEM图像和测试数据进行同步

的软件集成压头校准系统,可实现快速,准确的压头校准

与Windows®10兼容的InView控制和数据查看软件以及协助用户设计实验的方法开发功能



主要应用
硬度和模量测量(Oliver-Pharr)

连续刚度测量

高速材料性质分布图

ISO 14577硬度测试

聚合物的纳米动态力学分析(DMA)

定量刮擦和磨损测试
工业应用
大学、研究实验室和研究所

支柱和微球制造

MEMS(微机电系统)

材料制造(结构压缩/拉伸/断裂测试)

电池和元件制造


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