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光学轮廓仪 白光干涉仪 非接触式3D表面形貌测量系统
面议光学轮廓仪/3D显微镜 Zeta-300 支持3D量测和成像的功能
面议光学轮廓仪Profilm3D 满足需要不同倍率物镜切换使用的测量应用
面议白光共聚焦轮廓仪MICROMESURE 法国STIL公司 物美价廉
面议光学轮廓仪Zeta-20 是一款紧凑牢固的全集成光学轮廓显微镜
面议光学轮廓仪Profilm3D-200 标配200mm自动化X/Y平台
面议台阶仪 / 探针式轮廓仪 扫描可达200mm而无需图像拼接
面议NanoFlip纳米压痕仪 提供高精度XYZ位移,可定位样品进行测试
面议iNano®纳米压痕仪 可轻松测量薄膜、涂层和少量材料
面议光谱椭偏仪SE-1000 开放光学模型拟合分析过程 方便优化测试菜单
面议纳米级机械测试仪器 专为各种材料的表征和开发过程中进行测量
面议iMicro纳米压痕仪 可轻松测量硬涂层,薄膜和少量材料 准确 灵活
面议探针式轮廓仪 / 台阶仪 / P-7 Stylus Profiler
P-7支持从几纳米到一毫米的台阶高度测量,适用于生产和研发环境。该系统可以对台阶高度、粗糙度、翘曲度和应力进行2D和3D测量,其扫描可达150mm而无需图像拼接。
产品描述
P-7建立在市场的P-17台式探针轮廓分析系统的成功基础之上。 它保持了P-17技术的测量性能,并作为台式探针轮廓仪平台提供了的性价比。 P-7可以对台阶高度、粗糙度、翘曲度和应力进行2D和3D测量,其扫描可达150mm而无需图像拼接。
主要功能
台阶高度:几纳米至1000μm
微力恒力控制:至50mg
样品全直径扫描,无需图像拼接
视频:500万像素高分辨率彩色摄像机
圆弧校正:消除由于探针的弧形运动引起的误差
软件:简单易用的软件界面
生产能力:通过测序,模式识别和SECS / GEM实现全自动化
主要应用
台阶高度:2D和3D台阶高度
纹理:2D和3D粗糙度和波纹度
形状:2D和3D翘曲和形状
应力:2D和3D薄膜应力
缺陷复检:2D和3D缺陷表面形貌
工业应用
大学、研究实验室和研究所
半导体和化合物半导体
LED:发光二极管
太阳能
MEMS:微机电系统
数据存储
汽车
医疗设备
还有更多:请与我们联系以满足您的要求