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离子色谱-质谱联用技术IC-MS和IC-ICP-MS
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面议ELEMENT™ 系列 ICP-MS(高分辨率HR-ICP-MS)
面议iCAP™ TQs ICP-MS(三重四极杆TQ-ICP-MS)
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面议同步热分析仪 STA 449 F5 Jupiter
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面议热机械分析仪 TMA 402 F1/F3 Hyperion
面议KOSAKA 台阶仪 | 薄膜测厚仪 | 微细形状测定机ET4000系列
面议KOSAKA 台阶仪 | 薄膜测厚仪 | 微细形状测定机ET200A
面议热膨胀仪 DIL 402 Expedis Classic
面议GeminiSEM系列
长久以来,蔡司场发射扫描电镜GeminiSEM一直是高分辨力与宽样品适用性的代名词。无论您从事的研究方向是什么,GeminiSEM都可以满足您的需求。创新的电子光学系统和新型样品腔室设计可让您拥有更佳的图像质量、易用性和灵活性。蔡司场发射扫描电镜GeminiSEM兼具出色的成像和分析能力,不依靠浸没式物镜依然可以轻松实现1 kV以下的亚纳米级分辨力。以下内容可以使您进一步了解Gemini电子光学系统的三大设计,探索蔡司场发射扫描电镜GeminiSEM的应用潜能。
▲不导电矿物断裂表面的纳米级特征
> 更灵活的成像工具 – 配备Gemini 1镜筒的蔡司场发射扫描电镜GeminiSEM 360可以实现各种样品的高分辨成像、分析和各种应用需求的拓展。
> 更强大的分析能力 - 配备Gemini 2镜筒的蔡司场发射扫描电镜GeminiSEM 460可应对更加复杂的分析工作。连续可调的大束流使您可以在成像和分析条件之间无缝切换。
> 更的表征体验 - 蔡司场发射扫描电镜GeminiSEM 560配有Gemini 3镜筒及其新型电子光学引擎,让它在各种工作条件下均可发挥该系列的分辨率特性。