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蔡司FIB-SEM电子显微镜Crossbeam系列
面议蔡司 GeminiSEM 场发射扫描电子显微镜
面议蔡司 EVO 系列扫描电子显微镜
面议蔡司Sigma 系列场发射扫描电子显微镜
面议离子色谱-质谱联用技术IC-MS和IC-ICP-MS
面议同步热分析仪 STA 449 F5 Jupiter
面议SMV-300/300RT自动门尼粘度计
面议动态热机械分析仪 DMA 242 E Artemis
面议热机械分析仪 TMA 402 F1/F3 Hyperion
面议KOSAKA 台阶仪 | 薄膜测厚仪 | 微细形状测定机ET4000系列
面议KOSAKA 台阶仪 | 薄膜测厚仪 | 微细形状测定机ET200A
面议热膨胀仪 DIL 402 Expedis Classic
面议您可以从两种高性能,双聚焦扇形磁场 Thermo Scientific™ ELEMENT™ 系列 ICP-MS 仪器中选择,这些仪器针对易用性、稳定性和分析效率进行了优化。ELEMENT 2™ ICP-MS 提供强大的技术来解决特定问题,同时具备优异的灵敏度和信噪比。Thermo Scientific ELEMENT XR™ ICP-MS 结合法拉第检测器与双模式 SEM 检测器将 ELEMENT 2 ICP-MS 的线性动态范围扩展了三个数量级。
在痕量元素定量分析方面,ICP-MS 拥有强大的技术水平。ICP-MS 最严重的限制是对元素信号的多原子干扰。高质量数分辨率是消除这些干扰的金标准,可在痕量水平上准确可靠地进行多元素定量分析,样品制备步骤极为简便。
多元素分析
灵活性和可用性
ELEMENT XR ICP-MS
宽线性动态检测范围对于 ICP-MS 来说至关重要,因为其允许通过单次运行分析较宽的浓度范围。
集成式法拉第检测器的特性: