X射线荧光镀层厚度测量仪

FT160X射线荧光镀层厚度测量仪

参考价: 面议

具体成交价以合同协议为准
2023-03-17 13:11:44
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产品简介

FT160为微型电子器件的微焦斑分析,这款不会过时的仪器,专为微焦斑和超薄镀层分析而设计,可应对日益小型化的电子行业及PCB板镀层的挑战

详细介绍

  • FT160为微型电子器件的微焦斑分析,这款不会过时的仪器,专为微焦斑和超薄镀层分析而设计,可应对日益小型化的电子行业及PCB板镀层的挑战。

    ■ FT160可提供:
    1. 毛细管聚焦光学组件和高灵敏度SDD检测器。
    2. 小于50μm的样品测量
    3. 的性能,以满足半导体芯片技术的挑战。
    4. 快速得到结果,使用简单,以提高生产力。
    5. 加快样品呈现速度的宽大样品舱门和样品台。
    6. 进行测试监控的宽大样品观察窗。
  • 项目 描述
    X射线照射方向 上方照射式
    测量元素 Al (13) ~ U(92)
    靶材 钨(W) target、钼(Mo) target
    测定环境 大气
    X射线发生部 45kV, 钼Mo 靶材
    设计 毛细管聚焦Poly-capillary
    管电流 1000μA 可变
    X射线检测部 Silicon Drift Detector (SDD)
    测定面积 φ0.030mm(FWHM 0.017mm)
    样品面积 FT160长400mm×宽300mm×高100mm
    FT160L 600mm x 600mm专用款
    电动XY样品台驱动移动范围 400×300mm
    CCD Camera 高质量相机可变焦16倍
    对焦模式 雷射自动对焦
    测量模式 Thin Film FP (5层, 10元素)/检量线法
  • ▶ PCB、半导体和电子行业专用款
    (1) PCB / PWB 表面处理:控制表面处理工艺的能力决定线路板的品级、可靠性和寿命。根据IPC 4556和IPC 4552A测量非电镀镍(EN,NiP)电镀厚度和成分结构。FT150大面积载台,适合各种软板硬板镀层分析。

    (2) 电子组件的电镀:零件必须在规格范围内被电镀,以达到预期的功能、机械及环境性能。日立系列膜厚设备,可以测量小的试片或连续带状样品,从而达到引线框架、连接器插针、线材和端子的上、中和预镀层厚度的控制。

    (3) IC载板:半导体器件越来越小巧而复杂,需要分析设备测量其在小区域上的薄膜。日立分析仪器的分析仪设计为可为客户所需应用提供高准确性分析,及重复性好的数据。

    (4) 服务电子制造过程(EMS、ECS):结合采购和本地制造的组件及涉及产品的多个测试点,实现从进厂检查到生产线流程控制,再到最终质量控制。

    ▶ 金属表面处理
    (1) 耐腐蚀性:检验所用涂层的厚度和化学性质,以确保产品在恶劣环境下的功能性和使用寿命。轻松处理小型扣件或大型组件。

    (2) 耐磨性:通过确保磨蚀环境中关键部件的涂层厚度和均匀度,预防产品故障。复杂的形状、薄或厚的涂层和成品都可被测量。

    (3) 装饰性表面:当目标是实现光亮表面时,整个生产过程中的质量控制至关重要。通过日立分析仪器的多种测试设备,您可以可靠地检测基材,中间层和最上层厚度。

    (4) 耐高温:在条件下进行的零件的表面处理必须被控制在严格公差范围内。确保符合涂层规格、避免产品召回和潜在的灾难性故障。
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