系统集成了一对共焦色差位移传感器（纳米分辨率），采用单点非接触式测量，配合高速X/Y/Z多轴坐标运动，可以同时采集单个镜片或微镜头前后表面和基准面的3D形状点云得到相应的几何特征。不仅可以测量旋转对称的样品，还可测量更复杂的非轴对称或自由曲面样品，样品的直径可达到50mm（外径75mm）。

根据透镜直径和三维点云采样密度的不同，透镜每个表面的测量时间范围是30秒到4分钟 。（30-240秒）

应用

CUBE系统是专门为车间的品控设计的，针对抛光、模压和金刚石车削的光学元件的快速检验，包括红外材料和金属。这个系统的另一个优势是能在单个测量序列中完成多个较小的透镜或透镜阵列的测量。

测量的几何特征包括：

1. 相对于中心轴，前后表面顶点的偏移

2. 相对于水平基准，前后表面的楔角

3. 前后表面的总体厚度变化（TTV）

4. 前后表面矢高与表面面形

• 紧凑，带隔离箱的台式设计

• 双共焦色差传感器（8kHz）、单点、非接触、可见光测量

• 振动不敏感，稳定的殷钢框架

• 纳米级编码X/Y/Z多轴坐标运动，以磁驱直线电机，采用交叉滚子轴承，在50mmx50mm x50mm的范围内，完成快速栅格或螺旋扫描

• 精密自定心夹具，快速装卸样品

• 夹具同时适用于75mm外径的光学元件和微透镜阵列

• 简单方便的QuickPro操作和数据采集软件，拥有传感器优化设置、数据采集、自动定心和坐标运动功能

• CalcuSurf-3D 视图分析软件，用于观察分析多表面的三维点云数据