neaSNOM近场光学显微镜技术特点和优势：
• neaSNOM是目前世界上成熟的s-SNOM产品
• 保护的散射式近场光学测量技术
—的10 nm空间分辨率
• 的高阶解调背景压缩技术
—在获得10nm空间分辨率的同时保持的信噪比
• 保护的干涉式近场信号探测单元
• 的赝外差干涉式探测技术
—能够获得对近场信号强度和相位的同步成像
• 保护的反射式光学系统
—用于宽波长范围的光源：可见、红外以至太赫兹
• 高稳定性的AFM系统，
—同时优化了纳米尺度下光学测量
• 双光束设计
—的光学接入角：水平方向180°，垂直方向60°
• 操作和样品准备简单
—仅需要常规的AFM样品准备过程
