高压加速老化试验箱PCT和HAST
高压加速老化试验箱PCT和HAST,HAST高加速寿命试验箱是主要用于评估在湿度环境下产品或者材料的可靠性,是通过在高度受控的压力容器内设定和创建温度、湿度:压力的各种条件来完成的,这些条件加速了水分穿透外部保护性塑料包装并将这些应力条件施加到材料本体或者产品内部。相对于传统的高温高湿测试,HAST增加了容器内的压力,使得可以实现超过100℃条件下的温湿度控制,能够加速温湿度的老化效果。 参考价¥99999半导体芯片HAST测试
半导体芯片HAST测试,HAST高加速寿命试验箱是主要用于评估在湿度环境下产品或者材料的可靠性,是通过在高度受控的压力容器内设定和创建温度、湿度:压力的各种条件来完成的,这些条件加速了水分穿透外部保护性塑料包装并将这些应力条件施加到材料本体或者产品内部。相对于传统的高温高湿测试,HAST增加了容器内的压力,使得可以实现超过100℃条件下的温湿度控制,能够加速温湿度的老化效果。 参考价¥99999MOSFET-HAST测试 高加速寿命老化测试系统
MOSFET-HAST测试 高加速寿命老化测试系统,评估系统,绝缘电阻劣化评估系统是一种信赖性试验设备,原理为印刷电路板上给予一固定的直流电压,经过长时间的测试(1~1000小时)并观察线路是否有瞬间短路的现象发生,并记录电阻值变化状况,故又叫做CAF试验,绝缘阻力电阻试验,我们将其统称为绝缘劣化试验, 参考价¥99999HAST/B-HAST高加速寿命老化测试系统
HAST/B-HAST高加速寿命老化测试系统,评估系统,绝缘电阻劣化评估系统是一种信赖性试验设备,原理为印刷电路板上给予一固定的直流电压,经过长时间的测试(1~1000小时)并观察线路是否有瞬间短路的现象发生,并记录电阻值变化状况,故又叫做CAF试验,绝缘阻力电阻试验,我们将其统称为绝缘劣化试验,可进行BHAST试验。CAF(Conductive Anodic Filament,导电阳极丝)与HA 参考价¥99999ECM-HAST绝缘电阻劣化系统高加速寿命老化
ECM-HAST绝缘电阻劣化系统高加速寿命老化,评估系统,绝缘电阻劣化评估系统是一种信赖性试验设备,原理为印刷电路板上给予一固定的直流电压,经过长时间的测试(1~1000小时)并观察线路是否有瞬间短路的现象发生,并记录电阻值变化状况,故又叫做CAF试验,绝缘阻力电阻试验,我们将其统称为绝缘劣化试验,可进行BHAST试验。 参考价¥99999CAF-HAST绝缘电阻劣化系统高加速寿命老化
CAF-HAST绝缘电阻劣化系统高加速寿命老化,评估系统,绝缘电阻劣化评估系统是一种信赖性试验设备,原理为印刷电路板上给予一固定的直流电压,经过长时间的测试(1~1000小时)并观察线路是否有瞬间短路的现象发生,并记录电阻值变化状况,故又叫做CAF试验,绝缘阻力电阻试验,我们将其统称为绝缘劣化试验,可进行BHAST试验。 参考价¥99999Bias-HAST高加速老化 偏压老化测试系统
Bias-HAST高加速老化 偏压老化测试系统,评估系统,绝缘电阻劣化评估系统是一种信赖性试验设备,原理为印刷电路板上给予一固定的直流电压,经过长时间的测试(1~1000小时)并观察线路是否有瞬间短路的现象发生,并记录电阻值变化状况,故又叫做CAF试验,绝缘阻力电阻试验,我们将其统称为绝缘劣化试验,可进行BHAST试验。 参考价¥99999BHAST(偏压)加速老化试验箱
BHAST(偏压)加速老化试验箱,评估系统,绝缘电阻劣化评估系统是一种信赖性试验设备,原理为印刷电路板上给予一固定的直流电压,经过长时间的测试(1~1000小时)并观察线路是否有瞬间短路的现象发生,并记录电阻值变化状况,故又叫做CAF试验,绝缘阻力电阻试验,我们将其统称为绝缘劣化试验,可进行BHAST试验。 参考价¥99999BHAST温湿度偏压高加速应力测试 试验箱
BHAST温湿度偏压高加速应力测试 试验箱,BHAST温湿度偏压高加速应力测试,bHAST温湿度偏压高加速应力测试(Bias Highly Accelerated Stress Test)bHAST测试为带电的高温高湿条件下的可靠性(参考与执行试验标准:JESD22-A110)。该测试的目的就是为了让器件加速腐蚀,看芯片的工作状态。施加电压的原则如下:测试芯片所有供电要接上,处于工作状态下的最小 参考价¥99999IGBT-HAST试验箱 高加速老化
IGBT-HAST试验箱 高加速老化,HAST CHAMBER 又称为超加速寿命试验机,是用于调查分析何时出现电子元器件和机械零件的摩耗和使用寿命的问题的试验设备其目的是提高环境应力与工作应力、加快试验过程缩短产品或系统的寿命试验时间。用于 PCB、LCD Board、电池、电容、电阻、IC 半导体、连接器、线路板、磁性材料、高分子材料、EVA、光伏组件及其它电子零件之高温、高湿、高压等 参考价¥99999RF射频芯片的HAST测试 试验箱
RF射频芯片的HAST测试 试验箱,HAST CHAMBER 又称为超加速寿命试验机,是用于调查分析何时出现电子元器件和机械零件的摩耗和使用寿命的问题的试验设备其目的是提高环境应力与工作应力、加快试验过程缩短产品或系统的寿命试验时间。用于 PCB、LCD Board、电池、电容、电阻、IC 半导体、连接器、线路板、磁性材料、高分子材料、EVA、光伏组件及其它电子零件之高温、高湿、高压等信 参考价¥99999MPI高低温气流冲击系统TA5000玻璃罩维修
高低温气流冲击系统TA5000玻璃罩维修,MPI ThermalAir TA-5000A温度强制系统是一种安静的、生态友好的热流罩系统,能够进行快速温度测试、快速冷热循环和对半导体(包括印刷电路板和其他组件)进行温度特性研究测试。 参考价¥8888