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TESCAN AMBER-X FIB-SEM双束电镜 是*结合了分析型等离子FIB和超高分辨（UHR）扫描电镜的综合分析平台，能够同时提供高效率、大面积样品刻蚀，多模态的样品表征，以及在无镓注入干扰状态下进行样品制备和改性。
TESCAN AMBER X 具备快速精确的等离子体FIB刻蚀和无漏磁超高分辨SEM成像的特性，使其成为多项研究方案的选择，例如快速制备出宽度可达1 毫米的截面; 高通量、多模态的FIB-SEM断层扫描，可快速获得三维重建图像和可视化数据; 元素化学和/或晶体取向研究; 无注入离子干扰状态下制备出微米和纳米结构，以便通过其它分析方法进行后续测试或表征等。
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