二次离子质谱探针

首页>其它机械>其它其它机械>其它

二次离子质谱探针

型号

该企业相似产品

过程气体分析质谱仪

在线询价

飞行时间二次离子质谱仪TOF-SIMS

在线询价

EQP等离子体质量和能量分析质谱仪

在线询价

PSM等离子体质量和能量分析质谱仪

在线询价

高级朗缪尔探针

在线询价

等离子体刻蚀终点检测仪

在线询价

二次离子质谱工作站

在线询价

二次离子/溅射中性粒子质谱仪

在线询价
气体分析仪

北京英格海德分析技术有限公司是世界分析仪器制造商在中国的代理。多年来,我们在客户中建立了良好的声誉。我们的客户多数都是工作在新技术研究的前沿,如催化化学、氢能研究、等离子体物理、表面科学、大气环境监测、半导体材料和微纳米测量领域。我们与他们保持着密切的、积极的关系。 我们在为客户提供世界仪器设备的同时,还为他们提供了及时周到的售后服务,让用户无后顾之忧,使其专心科研。

详细信息

EQS 是差式泵式二次离子质谱(SIMS-Secondary Ion Mass Spectrometer ‘Bolt-On’ probe),可分析来自固体样品的二次阴、阳离子和中性粒子。采用的SIMS 探针,便于连结到现有的UHV表面科学研究反应室。

 

·光栅控制,增强深度分析能力
·所有能量范围内,离子行程的最小扰动,及恒定离子传输
·灵敏度高 / 稳定的脉冲离子计数检测器




 

·质量数范围:   300amu500amu1000amu

·检测器:         离子计数探测器、正负离子探测器、10cps

·质量过滤器:   3F四级杆

·杆直径:         9mm

·加热:      250

·离子源:         电子轰击,可用于SNMSRGA的单根灯丝

MAXIM - Quadrupole SIMS Analyser (562 KB)

AP0088 - Metal-Carbon Composites and Multilayer Thin Films Prepared by Plasma Assisted Sequential Deposition (293 KB)

AP0128 - Magnesium Nitride Phase Formation Through New Ion Beam Implantation Technique (406 KB)

同类产品推荐

产品参数

在线询价 在线询价
您的留言已提交成功~

采购或询价产品,请直接拨打电话联系

联系人:市场部

联系方式:
当前客户在线交流已关闭
请电话联系他 :