二次离子质谱工作站

首页>其他机械>其他机械产品>其他机械词

二次离子质谱工作站

型号

该企业相似产品

过程气体分析质谱仪

在线询价

飞行时间二次离子质谱仪TOF-SIMS

在线询价

EQP等离子体质量和能量分析质谱仪

在线询价

PSM等离子体质量和能量分析质谱仪

在线询价

高级朗缪尔探针

在线询价

等离子体刻蚀终点检测仪

在线询价

二次离子质谱探针

在线询价

二次离子/溅射中性粒子质谱仪

在线询价
气体分析仪

北京英格海德分析技术有限公司是世界分析仪器制造商在中国的代理。多年来,我们在客户中建立了良好的声誉。我们的客户多数都是工作在新技术研究的前沿,如催化化学、氢能研究、等离子体物理、表面科学、大气环境监测、半导体材料和微纳米测量领域。我们与他们保持着密切的、积极的关系。 我们在为客户提供世界仪器设备的同时,还为他们提供了及时周到的售后服务,让用户无后顾之忧,使其专心科研。

详细信息

SIMS 工作站(SIMS Workstationa complete SIMS Analysis Facility) ,综合UHV / SIMS 设备,进行高级的表面分析。可靠的、普遍适用的SIMS分析工作站。

 

·整合的离子源,便于RGASNMS

·各类型样品的快速转向

·阴、阳离子、中性粒子、自由基的质量、能量分析仪

·整合的离子枪光栅控制和信号选通,进行深度分析
·绝缘体研究中的电子流枪用于电荷中和
·液氮冷井和真空室烘烤加热器
·自动的SIMS 离子光学透镜调谐和质量数列表,使SIMS性能

 

·Hiden EQS SIMS 分析仪,运行于 MASsoft O/S 之下,检测限至ppb

·基本的激发源选择: 带差式泵的Hiden IG20 IonIFG200 FAB或高性能液态镓枪
·快速样品传递,样品固定,负载锁定的操纵器
·4 轴:X, Y, Z, θ UHV 操纵器,以定位样品
·加上ESM LabVIEWSIMS 成像程序,进行SIMS元素成像
·静态SIMS谱图库可用

Mass Spectrometers for Thin Films, Plasma and Surface Engineering (1.1 MB)

SIMS Brochure TI 181 (670 KB)

SIMS Brochure TI 181 HiRes (5.64 MB)

Tour of the Hiden SIMS Workstation (6.22 MB)

Instruments for diagnostics and analysis of thin films

Analysis of Metal-Polymer Interfaces in Thin Film Capacitors by Dynamic Quadrupole SIMS (380 KB)

Analysis of MOCVD-Grown GaInP/Ga(ln)As/Ge Triple Junction Solar Cells by SIMS (182 KB)

Combined SIMS SNMS Poster (1.08 MB)

High Performance SIMS - Mass and Energy Analyser for SIMS - A2 (584 KB)

High Performance SIMS - Mass and Energy Analyser for SIMS - A3 (339 KB)

Simultaneous SIMS and Electron Impact SNMS (347 KB)

同类产品推荐

产品参数

在线询价 在线询价
当前客户在线交流已关闭
请电话联系他 :