微电路L-IV测试数字源表
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S300型微电路L-IV测试数字源表

参考价: 订货量:
29800 1

具体成交价以合同协议为准
2020-05-22 13:59:53
201
属性:
测量范围:300mV-300V/100nA-1A;测量精度:0.01;外形尺寸:425*255*106mm;用途:分立半导体器件,传感器,太阳能电池,纳米材料,有机材料;重量:5kg;
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产品属性
测量范围
300mV-300V/100nA-1A
测量精度
0.01
外形尺寸
425*255*106mm
用途
分立半导体器件,传感器,太阳能电池,纳米材料,有机材料
重量
5kg
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武汉普赛斯仪表有限公司

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产品简介

微电路L-IV测试数字源表国产自主研发,性价比高,测试范围更广,输出电压高达300V,支持USB存储,一键导出报告,符合大环境下国内技术自给的需求,可及时与客户沟通,为客户提供高性价比系统解决方案

详细介绍

微电路L-IV测试数字源表认准普赛斯仪表,国产自主研发,性价比高,测试范围更广,输出电压高达300V,支持USB存储,一键导出报告,符合大环境下国内技术自给的需求及时与客户沟通,为客户提供高性价比系统解决方案,及时指导客户编程,加速测试系统开发

产品简介

S系列源表是普赛斯历时多年打造的高精度、大动态范围、数字触摸的*国产化的源表,集电压、电流输入输出及测量等多种功能,zui大输出电压达300V,zui小测试电流达100pA,支持四象限工作,因此能广泛的应用于各种电气特性测试中:半导体IC或元器件,功率器件,传感器,有机材料与纳米材料等特性测试和分析。

产品特点

S系列源表技术参数

zui大输出功率:30W,4象限源或肼模式;

源限度:电压源:±30V(≤1A量程),±300V(≤100mA量程);

电流源:±1.05A(≤30V量程),±105mA(≤300V量程);

过量程: 105%量程,源和测量;

稳定负载电容:<22nF;

宽带噪声(20MHz):2mV RMS(典型值),<20mV Vp-p(典型值);

线缆保护电压:输出阻抗1KΩ,输出电压偏移<80uV;

zui大采样速率:1000 S/s;

触发:支持IO触发输入及输出,触发极性可配置;

输出接口:前后面板香蕉头插座输出,同一时刻只能用前或者后面板接口;

通信口:RS-232、GPIB、以太网;

电源:AC 100~240V 50/60Hz;

工作环境:25±10℃;

尺寸:106mm高 × 255mm宽 × 425mm长;

S系列源表应用

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