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SE-VE光谱椭偏仪 紫外光谱仪
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经销商沈阳科晶自动化设备有限公司是由毕业于美国麻省理工学院的江晓平博士于
2000年5月创建。与合肥科晶材料技术有限公司、深圳市科晶智达科技有限公司同属于科晶联盟。自*SYJ-150低速金刚石切割机诞生以来,沈阳科晶便开始了以赶超国外同行、材料分析设备潮流为目标的发展历程。时至今日,已经拥有涵盖材料切割、研磨、抛光、涂膜、镀膜、混合、压轧、烧结、分析等领域以及相关耗材的上百种产品,可以满足晶体、陶瓷、玻璃、岩相、矿样、金属材料、耐火材料、复合材料、生物材料等制备分析的全套需要。
产品简介:SE-VE 是一款、快速测量光谱椭偏仪,紧凑集成设计,使用简便,可一键快速测量表征各式光学薄膜膜厚以及光学常数等信息。高性价比光学椭偏测量解决方案,紧凑集成化设计,用户操作体验,一键快速测量分析,人机交互设计,使用便捷,丰富的数据库和几何结构模型库,保证强大数据分析能力,广泛应用于科研/企业中各种单层到多层薄膜膜厚以及光学常数等快速表征分析。
产品型号 | SE-VE光谱椭偏仪 | ||
主要特点 | 1、采用高性能进口复合光源,光谱覆盖可见到近红外范围 (400-800nm) 2、高精度旋转补偿器调制、PCRSA配置,实现Psi/Delta光谱数据高速采集 3、数百种材料数据库、多种算法模型库,涵盖了目前绝大部分的光电材料 | ||
技术参数 | 1、自动化程度:固定角 2、应用定位:经济型 3、基本功能:Psi/Delta、N/C/S、R等光谱 4、分析光谱:400-800nm 5、单次测量时间:0.5-5s 6、重复性测量精度:0.05nm 7、光斑大小:大光斑1-3mm 8、入射角调节方式:固定角 9、入射角范围:65° 10、找焦方式:手动找焦 11、Mapping行程:不支持 12、支持样件尺寸:大至160mm | ||
可选配件 | 1 | 温控台 |
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2 | 真空泵 |
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3 | 透射吸附组件 |
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