Bruker DektakXTL台阶仪
品牌
其他厂商性质
所在地
亚科电子(包括亚科电子(香港)有限公司、北京亚科晨旭科技有限公司等)
组合推荐相似产品
EVG 501晶圆键合系统
EVG 510晶圆键合系统
EVG ComBond晶圆键合系统
EVG GEMINI晶圆键合系统
EVG 850TB临时键合系统
EVG GEMINI FB晶圆键合系统
EVG 850LT SOI晶圆键合系统
EVG BONDSCALE晶圆键合系统
EVG IQ Aligner光刻系统
EVG Hercules光刻系统
EVG IQ Aligner NT光刻系统
EVG 610(NIL)纳米压印系统
Bruker DektakXT台阶仪
垂直量程
1mm
垂直分辨率
0.1nm
单次扫描长度
55mm ( 300mm)
样品高度
50mm
样品台尺寸
300mmX300mm (自动) 350mmX350mm(自动)
样品台旋转
两点定位 360 度连续旋转
台阶测试精度
<4Å( 1sigma on 1μm step)
观察系统
双镜头设置
首页
展台
留言
收藏
联系方式
请选择您要拨打的电话: